Антон Глотов » Публикация
Поделиться публикацией:
Опубликовано
2009-04-30
Опубликовано на SciPeople2010-09-19 08:46:53
ЖурналФизика и техника полупроводников
Структурные и оптические свойства низкотемпературных МОС–гидридных гетероструктур AlGaAs/GaAs(100) на основе твердых растворов вычитания
Физика и техника полупроводников, 2009, том 43, вып. 12
Аннотация
Методами рентгеновской дифракции, сканирующей электронной микроскопии и ИК-спектроскопии на отражение изучены свойства эпитаксиальных МОС-гидридных гетеро-структур AlxGa1-xAs/GaAs(100), выращенных при пониженных температурах. Установлено, что изменение параметра кристаллической решетки твердых растворов AlxGa1-xAs от концентрации Al не подчиняется классическому закону Вегарда, а значения параметров меньше чем у GaAs.
Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален